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Michael Grüttner im Gespräch über "TALAR UND HAKENKREUZ"
09.10.2024 um 19:30 Uhr
Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen
Simulation mit PSPICE
von Peter Baumann
Verlag: Springer Fachmedien Wiesbaden
E-Book / PDF
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ISBN: 978-3-8348-2495-0
Auflage: 2012
Erschienen am 28.09.2012
Sprache: Deutsch
Umfang: 135 Seiten

Preis: 15,28 €

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Biografische Anmerkung
Inhaltsverzeichnis
Klappentext

Prof. Dr.-Ing. habil. Peter Baumann ist Lehrbeauftragter für das Modul Elektronik an der Hochschule Bremen.



Halbleiterdioden.- Bipolartransistoren.- Sperrschicht-Feldeffekttransistoren.- Mos-Feldeffekttransisotoren.- Leistungs-Mos-Feldeffekttransistor.- Operationsverstärker.- Optokoppler.



Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms OrCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit SPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird vorgestellt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, Z-Diode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler.