1. Einleitung.- 1.1. Nichtleiter im elektrischen Feld - die elektrische Polarisation.- 1.1.1. Klassische Beschreibung der elektrischen Polarisation.- 1.1.2. Die Dielektrizitätskonstante.- 1.1.3. Dielektrische Nichtlinearitäten.- 1.2. Dielektrische Eigenschaften leitender Proben.- 1.3. Schnellveränderliche elektrische Felder.- 2. DK-Messung im NF-Bereich.- 2.1. Das vollständige Ersatzschaltbild der Probe.- 2.1.1. Parallel-und Serienersatzschaltung.- 2.1.2. Die Probe als Dreipol.- 2.1.3. Der Einfluß des Kandfeldes.- 2.1.4. Der Einfluß der Zuleitungen.- 2.1.5. Der Einfluß von Luftspalten.- 2.2. Strom-Spannungs-Messung.- 2.2.1. Spannungseinspeisung.- 2.2.2. Stromeinspeisung.- 2.2.3. Messung bei tiefen Frequenzen.- 2.3. Kapazitätsmeßbrücken.- 2.3.1. Wheatstone-Brücke.- 2.3.2. Nernst-Brücke.- 2.3.3. Maxwell-Brücke.- 2.3.4. Schering-Brücke.- 2.3.5. Erdung und Abschirmung.- 2.3.6. Schutzringmessungen.- 2.3.7. Brückenschaltungen für tiefe Frequenzen.- 2.3.8. Empfindlichkeit einer Brückenschaltung.- 2.3.9. Übertragerbrücken.- 2.3.10. Der Brückenabgleich.- 2.3.11. Automatische Kapazitätsmessung.- 2.4. Admittanzmessung im Doppel-T-Vierpol.- 3. DK-Messung im Resonanzschwingkreis.- 3.1. Die Bestimmung von? und tan?? aus der Resonanz- kurve.- 3.1.1. Theorie des Meßverfahrens.- 3.1.2. Der Einfluß der Zuleitungen.- 3.2. DK-Messung mit dem Gütefaktormesser.- 3.2.1. Verlustfaktor und Güte.- 3.2.2. Gütefaktormesser.- 3.2.3. DK-Messung mit Stoffmeßkondensator.- 3.2.4. Koaxiale Probenleitungen.- 4. DK-Messung mittels elektromagnetischer Wellen.- 4.1. Vorgänge auf Leitungen.- 4.1.1. Leitungsgleichungen und Wellenwiderstand.- 4.1.2. Reflexionsfaktor.- 4.1.3. Stehwellen Verhältnis.- 4.1.4. Impedanztransformation.- 4.1.5. Smith-Diagramm.- 4.2. Die Anwendung von Meßleitungen zur Bestimmung der DK.- 4.2.1. Der Zusammenhang zwischen Stoff konstanten und Leitungskennwerten.- 4.2.2. Impedanzmessung mit einer Meßleitung.- 4.2.3. Das Leerlauf-Kurzschluß-Verfahren.- 4.2.4. Messungen an dünnen Proben.- 4.2.5. Stehwellenmessung innerhalb der Probenleitung.- 4.2.6. Der Einfluß der Dämpfung der Meßapparatur.- 4.2.7. Der Einfluß von Luftspalten zwischen Probe und Leitung.- 4.3. Der koaxiale Probenhalter.- 4.3.1. Die Probe als Abschluß der Koaxialleitung.- 4.3.2. Die Transformationseigenschaften der Probenleitung.- 4.3.3. Der Aufbau koaxialer Probenhalter.- 4.4. Andere Geräte zur Impedanzmessung.- 4.4.1. Die schlitzlose Meßleitung.- 4.4.2. Mikrowellenbrücken.- 4.5. Die Bestimmung der DK aus dem komplexen Trans- missionsfaktor.- 4.5.1. Transmissionsfaktor.- 4.5.2. Der Zusammenhang zwischen Transmissionsfaktor und DK.- 4.5.3. Verfahren zur Messung des komplexen Transmissionsfaktors.- 4.5.4. Transmissionsresonanz.- 4.6. DK-Messung in Leitungsresonatoren.- 4.6.1. Koaxialresonator.- 4.6.2. Hohlraumresonatoren.- 4.6.3. Der gestörte Resonator.- 4.6.4. Gütemessung an Resonatoren.- 4.6.5. Dielektrische Resonanz.- 5. Dielektrische Messungen an nichtlinearen Dielektrika.- 5.1. DK-Messung bei überlagertem Gleichfeld.- 5.2. Messung der dielektrischen Hysterese.- 5.2.1. Sawyer-Towee-Schaltung.- 5.2.2. Hysteresebrücken.- 5.2.3. Hysteresekurvenschreiber mit Miller-Integrator.- 5.2.4. Anwendungsbeispiele.- 5.3. Messung dielektrischer Nichtlinearitäten bei höheren Frequenzen.- 5.4. Impulsmethoden zur Untersuchung des Umschaltverhaltens von Ferroelektrika.- 5.4.1. Messung der umgeschalteten Ladung.- 5.4.2. Die geklemmte Probe.- 5.4.3. Messung des Umschaltstromes.