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29.11.2024 um 19:30 Uhr
Reliability and Degradation of III-V Optical Devices
von Osamu Ueda
Verlag: Artech House Publishers
Gebundene Ausgabe
ISBN: 978-0-89006-652-2
Erschienen am 15.09.1996
Sprache: Englisch
Format: 236 mm [H] x 160 mm [B] x 24 mm [T]
Gewicht: 649 Gramm
Umfang: 372 Seiten

Preis: 148,50 €
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Klappentext

Focusing on helping researchers and engineers involved in III-V compound semiconductor thin film growth and processing, this text shows the mechanism of degradation, detailing the major degradation modes of optical devices fabricated from three different systems, and describing methods for elimination of defect-generating mechanisms.